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鏡頭分辨率測(cè)試卡
鏡頭分辨率測(cè)試卡TE253 9X設(shè)計(jì)用于測(cè)試鏡頭分辨率，144 周期和5mm標(biāo)記用于8百萬到1億8千萬像素之間的攝像頭，鏡頭分辨率測(cè)試卡TE253 9x有以下尺寸和類型。......【點(diǎn)擊詳情】
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shading/vignetting測(cè)試卡
shading/vignetting測(cè)試卡TE255設(shè)計(jì)用于測(cè)量數(shù)碼相機(jī)的shading/ vignetting。shading/vignetting測(cè)試卡是一種非常精確和中性的透射玻璃板，與積分球或燈箱組合使用。......【點(diǎn)擊詳情】
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色彩還原測(cè)試卡
色彩測(cè)試卡TE256設(shè)計(jì)用于高清攝像機(jī)的色彩再現(xiàn)，是TE232的修訂版本，兩個(gè)11階灰階條按相反的方向排列在灰色背景（D≈0.62，透射值= 24％）中，并且灰階條上下有三原色以及青色、紫色......【點(diǎn)擊詳情】
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IT8掃描儀特征測(cè)試卡
IT8掃描儀特征測(cè)試卡簡(jiǎn)介：IT8掃描儀特征測(cè)試卡TE258設(shè)計(jì)用于掃描儀，它適合為掃描儀創(chuàng)建顏色管理配置文件。......【點(diǎn)擊詳情】
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OECF/噪聲測(cè)試卡和20階灰度卡10000:1
OECF/噪聲測(cè)試卡和20階灰度卡TE259用于檢查波形監(jiān)視器上廣播攝像機(jī)的動(dòng)態(tài)范圍。 在灰色背景上兩個(gè)20階灰度條按相反的順序排列，灰度級(jí)不是對(duì)數(shù)級(jí)或線性級(jí)的，對(duì)比度范圍10.000：1。......【點(diǎn)擊詳情】
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幾何失真測(cè)試卡
幾何失真測(cè)試卡TE260由正面和背面的兩個(gè)不同的圖表組成。，其中一個(gè)有31行的點(diǎn)和其他15行的點(diǎn)。 它們可用于確定幾何失真和色差。......【點(diǎn)擊詳情】
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SFR測(cè)試卡
SFR測(cè)試卡TE261背景中有一個(gè)傾斜的棋盤，五個(gè)低對(duì)比度傾斜邊緣和灰階。 SFR測(cè)試卡用于確定數(shù)字捕獲設(shè)備的SFR，并且是與AF-Box和STEVE組合的默認(rèn)圖表。......【點(diǎn)擊詳情】
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UTT通用測(cè)試卡
UTT通用測(cè)試卡簡(jiǎn)介;UTT通用測(cè)試卡TE262旨在評(píng)估用于創(chuàng)建文檔，照片和其他反射媒體的數(shù)字圖像的掃描儀和其他數(shù)字輸入設(shè)備的圖像質(zhì)量。......【點(diǎn)擊詳情】
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掃描參考測(cè)試卡
掃描參考測(cè)試卡TE263用于確保每個(gè)掃描都處于焦點(diǎn)，正確曝光和白平衡， 測(cè)試卡包括灰階，色塊，比例和分辨率模式。 它允許自動(dòng)分析每個(gè)掃描的頁面，并結(jié)合正確的軟件 - 提供信息的......【點(diǎn)擊詳情】
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OECF測(cè)試卡20階(ISO 14524/15739)
舊版OECF測(cè)試卡包含循環(huán)順序中的12或20個(gè)灰色色塊，以及測(cè)試卡中心的三個(gè)不同圖案。新版 OECF測(cè)試卡去掉了中心圖案避免了有時(shí)發(fā)生散射。。此測(cè)試卡還提供TE264X（僅D280格式），其中......【點(diǎn)擊詳情】
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枯葉圖
枯葉圖TE265用于分析“紋理損失”，這是由于降噪或其他圖像處理技術(shù)導(dǎo)致的圖像中低對(duì)比度，精細(xì)細(xì)節(jié)的損失?？萑~圖TE265包括四個(gè)項(xiàng)目......【點(diǎn)擊詳情】
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微縮膠片測(cè)試卡DIN 19051
微縮膠片測(cè)試卡DIN 19051簡(jiǎn)介，DIN 19051提供了一個(gè)校準(zhǔn)微縮膠片生產(chǎn)鏈的測(cè)試卡。 它們可以安裝在塑料背板上，放在桌子上或懸掛在任何可用的安裝裝置上。 ......【點(diǎn)擊詳情】
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鏡頭分辨率測(cè)試卡
鏡頭分辨率測(cè)試卡TE268專為分辨率和銳度測(cè)量而設(shè)計(jì)。 25個(gè)正弦調(diào)制的西門子星，在四個(gè)不同對(duì)比度的16個(gè)傾斜邊緣，四個(gè)彩色枯葉圖和繩索結(jié)構(gòu)圖像被放置在測(cè)試卡上。測(cè)試卡可以對(duì)九......【點(diǎn)擊詳情】
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OECF 36階測(cè)試卡
OECF 36階測(cè)試卡基本上遵循ISO 14524，但是增加了額外的灰階，特別是在更高的密度水平。我們的OECF測(cè)試卡具有穩(wěn)定的生產(chǎn)工藝和強(qiáng)中性的優(yōu)勢(shì)。此外，可實(shí)現(xiàn)高達(dá)1.000.000：1 / 120dB的非常高......【點(diǎn)擊詳情】
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